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產(chǎn)品中心

Product Center

當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心納米壓痕儀Nano Flip原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM

原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM

產(chǎn)品簡介

原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM NanoFlip產(chǎn)品既可以工作在真空環(huán)境下進行各種原位力學(xué)測試;也可以直接在大氣環(huán)境下測試。本產(chǎn)品可進行硬度和楊氏模量測試、連續(xù)剛度測試、力學(xué)性能譜圖、納米動態(tài)力學(xué)分析、劃痕和磨損測試、柱壓縮等測試,可同時將SEM圖像與力學(xué)測試數(shù)據(jù)同步。還可以進行快速壓痕測量,這是在惰性環(huán)境(如手套箱)中研究非均均相材料的重要手段。

產(chǎn)品型號:Nano Flip
更新時間:2025-09-26
廠商性質(zhì):代理商
訪問量:2251
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品牌其他品牌價格區(qū)間面議
產(chǎn)地類別進口儀器種類納米壓痕儀
應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,化工,電子/電池,航空航天,汽車及零部件

原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM

NanoFlip產(chǎn)品既可以工作在真空環(huán)境下進行各種原位力學(xué)測試;也可以直接在大氣環(huán)境下測試。NanoFlip可進行硬度和楊氏模量測試、連續(xù)剛度測試(CSM)、力學(xué)性能譜圖(Mapping)、納米動態(tài)力學(xué)分析(DMA)、劃痕和磨損測試、柱壓縮等測試,可同時將SEM圖像與力學(xué)測試數(shù)據(jù)同步。NanoFlip還可以進行快速壓痕測量,這是在惰性環(huán)境(如手套箱)中研究非均相材料的重要手段。

原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM

  • KLA NanoFlip產(chǎn)品:*的激發(fā)器的結(jié)構(gòu)設(shè)計,*實現(xiàn)載荷和位移的分別控制和探測,實現(xiàn)納米壓痕檢測,包括動態(tài)力學(xué)測試、軟材料測試、及薄膜測試等等。
  • 符合ISO14577的國際標準的壓痕測試
  • NanoFlip動態(tài)測試附件是由連續(xù)剛度專用技術(shù)的發(fā)明人研發(fā)的:動態(tài)力學(xué)測試原理為在準靜態(tài)加載過程中,施加在壓頭上一個正玄波,從而表征出隨著壓痕深度、載 荷、時間或者頻率的變化材料力學(xué)性能的變化。
  • NanoBlitz3D技術(shù),提供每個壓痕在載荷下的楊氏模量、硬度和剛度,大量的測試提高了統(tǒng)計的準確性,自動生成楊氏模量、硬度和剛度Mapping圖,是研究非均相材料研究的重要方法。

硬度和模量測量(Oliver-Pharr)

Nanoflip納米壓痕測量各種材料的硬度和模量,從超軟凝膠到硬涂層。

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連續(xù)剛度測試(CSM

連續(xù)剛度測量用于量化動態(tài)材料特性,如應(yīng)變率和頻率誘導(dǎo)效應(yīng)。NanoFlip納米壓頭提供從0.1Hz1kHz的動態(tài)頻率,根據(jù)深度或頻率連續(xù)測量接觸剛度。

原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM



高速材料性能Mapping3D/4D


對于復(fù)合材料,不同區(qū)域的力學(xué)性能差異很大。NanoFlipX軸和Y軸上提供21mm的樣品臺移動,在Z軸上提供25mm的樣品臺移動,允許在樣品區(qū)域上測試大范圍高度變化的樣品。地形和斷層掃描軟件可以快速生成任何測量機械性能的彩色譜圖。


原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM


納米動態(tài)力學(xué)分析

聚合物是非常復(fù)雜的材料。為了獲得聚合物的有用信息,應(yīng)在相關(guān)背景下對相關(guān)樣品進行機械性能測量。納米壓痕測試使這種測量變得更容易,因為樣品可以很小,并且制備所需要的量少。納米壓痕系統(tǒng)可以通過振蕩壓頭與材料接觸的方式來測量聚合物的復(fù)合模量和粘彈性性能。

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定量劃痕磨損測試

Nanoflip可以對各種材料進行劃痕和磨損測試。涂層和薄膜要經(jīng)過許多加工過程,例如化學(xué)和機械拋光(CMP)和金屬絲粘合,以測試這些薄膜的強度和它們在基底上的粘附力。對于這些材料來說,在這些過程中抵抗塑性變形并保持完整而不起泡是非常重要的

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相關(guān)文獻

  1. 原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM

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